RIGOL 矢量网络分析仪
精准表征射频微波网络，RIGOL为您提供了前所未有的价值。无论您是进行有源或无源器件的性能表征，设计和测试滤波器与放大器，验证天线和线缆的性能，还是进行信号完整性分析，RIGOL都能为您提供适合需求的矢量网络分析仪。
常见问题
S参数的全称是散射参数（Scattering Parameter），是射频与微波领域描述元器件在射频信号激励下电气行为的核心工具。S参数通过复数矩阵描述器件端口对射频信号的反射和传输特性，量化了网络的输入输出关系。S参数名称来源于英文“Scattering”（散射）一词。
S参数是基于信号电压比值的参数，因此S参数为矢量（包含幅度和相位信息）。
史密斯圆图（Smith Chart）是归一化阻抗的图形表示，由Phillip Hagar Smith于1939年发明。它将直角坐标平面的右半边弯曲，使正负电抗轴与电阻轴相交，形成一个圆图——上半部分是电感区，下半部分是电容区，中间由纯电阻轴分开。
史密斯圆图最初是用来简化数学计算的工具，但由于它能够直观显示复阻抗（尤其是与频率的关系），至今在射频工程中仍然非常有用。
矢量网络分析仪使用史密斯圆图来显示在特定频率范围内的复数阻抗。通过史密斯圆图，工程师可以：
- 直观判断阻抗匹配状态
- 观察频率扫描下的阻抗轨迹
- 快速判断匹配网络的电容电感取值方向
- 进行反射损耗优化
如果用户需要实际测量天线、滤波器或射频链路的阻抗匹配，可参考 RIGOL矢量网络分析仪产品页或相关应用笔记。
以RIGOL矢量网络分析仪为例——矢量网络分析仪通过测量反射系数S11（或S22），可以计算出被测器件的阻抗。在VNA上，阻抗分析结果通常以史密斯圆图形式直观显示——将复数阻抗（电阻与电抗）映射在一个圆形坐标系中，中心点代表理想的50Ω匹配点。
两者对比如下：
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特性 |
机械校准件 |
电子校准件 (ECal) |
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原理 |
提供已知标准的机械阻抗（开路、短路、负载）。 |
内部集成可电子切换的阻抗标准，通过单一连接即可完成校准。 |
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操作 |
繁琐，需手动依次连接多个校准标准。 |
简单快速，一键式或单次连接即可完成全部校准。 |
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精度 |
精度非常高，是校准的“黄金标准”。 |
精度高，足以满足绝大多数测试需求，但通常略逊于顶级机械校准件。 |
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可靠性 |
无源器件，坚固耐用，但接口有磨损。 |
内含有源电子元件，对静电更敏感，有校准周期。 |
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成本 |
相对较低。 |
相对较高。 |
总结：追求极致精度且时间充裕，选机械校准件；追求高效率、高重复性的产线或研发调试，电子校准件是更优选择。
RIGOL矢量网络分析仪配备丰富的校准件，可访问产品页了解更多详情。
