DSU2000系列是普源精电即将首次发布的台式精密源测量单元，提供了最多两个通道的四象限电源输出和测量的能力，每个通道均具备40W的最大输出功率，±220V/±1.1A的电压电流范围，以及最小50us脉宽，最大3A的电流脉冲输出能力，其中最小电流底噪＜500 fA，电压噪声＜ 1 μV；并支持直流、脉冲、扫描及列表输出功能。
该产品面向半导体表征、光电、新能源研发及产线自动化测试场景，可实现高功率、高速、低噪声的精密源测量。
SMU新品落地半导体测试，普源精电开辟全新增长曲线
普源精电即将发布面向晶圆厂与封装测试产线场景的DSU2000系列台式精密源测量单元（SMU）及SUP5000系列PXIe高密度源测量系统，标志着公司完成向半导体产测赛道的场景跨越与延伸，打开了全新的增长曲线。
除了以源表为核心的静态参数测试外，普源精电还提供基于示波器、探头、信号源与直流电源协同构成的动态测试方案，覆盖器件从研发验证到量产导入的全链路需求。面向 800V HVDC 数据中心电源架构，公司推出 SiC / GaN 功率器件动态参数测试方案，可精准捕获开关瞬态、反向恢复及寄生参数等关键指标，支撑第三代半导体在高压、高频场景下的可靠性验证与批量导入。同时，方案延伸至电源质量分析场景，助力工程师评估纹波、瞬态响应及电能质量；并配套教育级动态测试平台，服务高校与科研机构在功率电子、微电子等方向的实验教学与人才培养，形成“静态 + 动态”一体化的半导体测试能力矩阵。
RIGOL 半导体静态测试解决方案
晶圆级静态测试
DSU2000 搭配探针台，可构建高效晶圆级静态参数测试方案。产品 500 fA 级测量灵敏度与超低噪声底，直接支撑 pA～nA 漏电筛查，无需外置放大器；6½ 位分辨率配合 ±220 V / ±1.1 A 四象限输出，可完成 MOSFET、IGBT、SiC 等器件 I-V 曲线、阈值电压及击穿特性表征。2 Msps 高速采样提升单晶圆批量扫描效率，Digital I/O 触发接口便于与探针台联动，助力晶圆厂实现高精度、高吞吐的在线筛选与良率管控。
封装后成品终测
DSU2000 面向封装后器件成品终测（FT）场景，可快速嵌入分选机或 ATE 测试工位。双通道 40 W 四象限架构单台即可完成漏电流、导通压降、击穿电压等关键参数批量扫描；500 fA 级灵敏度保障微安级漏电分选精度，2 Msps 高速采样配合 10 M 点缓存显著提升单工位 UPH。产品兼容主流 SMU 指令集，支持 GPIB、LAN 及 Digital I/O 多机同步，产线程序可零代码迁移，助力封装测试厂实现高效率、低切换成本的成品参数分选与良率管控。
SUP5000 Mini LED 显示面板驱动芯片测试
SUP5000系列PXIe高密度源测量系统面向Mini LED 显示面板驱动芯片测试，单模块最高 24 通道、1.5U 机箱可集成 48 路，可扩展成 4U 机箱 348 路，能够覆盖多路静态恒流精度、关断漏流电流及通道失调筛查需求。13 pA / 13 μV 级分辨率保障皮安级驱动精度与一致性判定；四象限输出配合多通道同步控制与 1 MSa/s 采样，可高效完成多通道 I-V 扫描、恒流精度及序列波形响应测试。模块化架构便于嵌入 ATE 系统，可快速构建覆盖晶圆 CP、研发验证、量产 FT 全流程并行测试体系，助力驱动芯片研发验证与量产分选。
半导体静态测试仪器
DSU2000系列 台式精密源表
SUP5000系列 多通道SMU
SUP5000系列产品是一款高精度、高集成度的多通道源测量单元，支持恒压、恒流工作模式，支持四象限输出；支持多通道并联扩展电流范围；提供电压电流高级序列功能，支持流式序列波形输出；支持多通道道同步测量与存储功能。
产品支持用户对业务系统进行二次开发，灵活扩展应用场景。强大的软件平台提供开放式接口，便于客户在半导体器件测试、新能源材料测试、传感器校准、精密电子元件表征等领域构建自动化测试流程或定制化解决方案。
半导体动态测试 解决方案
半导体动态测试解决方案
普源精电（RIGOL）适配 800V HVDC 碳化硅 / 氮化镓器件测试，依托双脉冲方案；规范探头校准，覆盖多场景半导体动态检测。
半导体动态测试仪器
MHO/DHO5000
模拟带宽
模拟通道数
最高实时采样率
最大存储深度
最高波形捕获率
数字通道
DG5000 Pro
最高输出频率
采样率
垂直分辨率
通道数
任意波长度
DP2000
通道数
总功率
编程分辨率
显示分辨率
通讯接口
